장비보유현황

X-ray 두께 측정기

  • 장비명 X-ray 두께 측정기
  • 모델명 LXR-300
  • 제작사 LXR-300
  • LXR-300

X-ray 두께 측정기

  • 장비명 X-ray 두께 측정기
  • 모델명 SFT-7000
  • 제작사 SEIKO (일본)
  • 비파괴식 두께 측정

자외선분광계 (Ultra Violet Spectrophotometer)

  • 장비명 자외선분광계 (Ultra Violet Spectrophotometer)
  • 모델명 SPECORD 200
  • 제작사 analytikjena (독일)
  • 분자의 구조 분석 및 정성 분석, 순도확인 및 정량 분석

자외선분광계 (Ultra Violet Spectrophotometer)

  • 장비명 자외선분광계 (Ultra Violet Spectrophotometer)
  • 모델명 UV-1201
  • 제작사 SHIMADZU (일본)
  • 분자의 구조 분석 및 정성 분석, 순도확인 및 정량 분석

Solder ball shear & pull Tester

  • 장비명 Solder ball shear & pull Tester
  • 모델명 DAGE 4000
  • 제작사 DAGE Precision Industry (영국)
  • Solder 신뢰성 평가

Solder ball shear & pull Tester

  • 장비명 주사전자현미경(SEM) | Energy Dispersive Spectoscopy(EDS)
  • 모델명 JSM-6360LV | 7582
  • 제작사 JEOL (일본) | OXFORD (영국)
  • 시료 표면 관찰 | 시료 표면 금속의 정성 및 정량 분석

광학현미경(Optical Microscope)

  • 장비명 광학현미경(Optical Microscope)
  • 모델명 PGM 3
  • 제작사 OLYMPUS (일본)
  • 시료의 표면 관찰

광학현미경(Optical Microscope)

  • 장비명 광학현미경(Optical Microscope)
  • 모델명 BX 51
  • 제작사 OLYMPUS (일본)
  • 시료의 표면 관찰

Cyclic Voltammetric Stripping (CVS)

  • 장비명 Cyclic Voltammetric Stripping (CVS)
  • 모델명 QL-10
  • 제작사 ECI Technology (미국)
  • 시료의 각종 첨가제 분석

고성능액체크로마토그래피(HPLC)

  • 장비명 고성능액체크로마토그래피(HPLC)
  • 모델명 ICS-2500 System
  • 제작사 DIONEX (미국)
  • 시료에 대한 분리 및 정량분석, 미지시료의 정성분석

유도플라즈마분광계(ICP)

  • 장비명 유도플라즈마분광계(ICP)
  • 모델명 SPS-7700
  • 제작사 SEIKO (일본)
  • 시료중 금속 원소의 정량 및 정성 분석

원자흡광광도계(AA)

  • 장비명 원자흡광광도계(AA)
  • 모델명 AA-6800
  • 제작사 SHIMADZU (JAPAN)
  • 시료 중 금속 원소의 정량 분석